中華人民共和國機械行業(yè)標準

                                                       JB/T 6066--92

                          磁粉探傷用標準試塊

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1主題內容與適用范圍

    本標準規(guī)定了磁粉探傷用B、E兩種標準試塊的技術要求,檢驗方法、檢驗規(guī)程,標志、包裝和使用。

    本標準適用于磁粉探傷用B、E兩種環(huán)形標準試塊的產(chǎn)品質量評定。

2引用標準

    GB 230  金屬洛氏硬度試驗方法

    GB 699  上等碳素結構鋼技術條件

    GB 1031 表面粗糙度 參數(shù)及其數(shù)值

    GB 1299 合金工具鋼技術條件

    GB 6394 金屬平均晶粒度測定方法

3技術要求

3.1形狀和尺寸

    B型試塊的形狀和尺寸見圖1,E型試塊的形狀和尺寸見圖2。

                             圖 1  B型標準試塊

    圖 2  E型標準試塊

3.2B型試塊的材料

    B型試塊的材料應符合GB1299的規(guī)定,經(jīng)退火處理的9CrWMn鋼鍛件,其硬度為90-95HRB,晶粒度不低于4級。

3.3E型試塊的材料

3.3.1外環(huán)材料應符合GB 699規(guī)定的、經(jīng)退火處理的10鋼鍛件,晶粒度不低于4 級。

3.3.2內環(huán)材料為具有一定耐熱、耐油、抗變形、易切削性能的非金屬材料。如:有機玻璃、硬質聚氯乙烯等。

3.3.3芯棒材料為銅或鋁合金。

4檢驗規(guī)則和檢驗方法

4.1原材料的檢驗

4.1.1原材料的檢驗項目公限于B型試塊和E型試塊的外環(huán)。

4.1.2原材料的化學分析

4.1.2.1 在同一爐號(或批號)的原材料中應至少取出一份樣品進行化學分析。用于B型試塊的原材料其分析結果應符合GB1299的規(guī)定,用于E型試塊外環(huán)的原材料,其分析結果應符合GB699的規(guī)定。

4.1.2.2 如果以上任一份樣品的分析結果不符合規(guī)定要求,允許重新取出三份或三份以上的補充樣品進行化學分析,補充樣品中只要有一份樣品不符合規(guī)定要求,則不允許使用該爐號(或批號)的原材料制造試塊。

4.1.3原材料的晶粒度和硬度測定

4.1.3.1 晶粒度的測定和硬度的測定均在原材料經(jīng)過鍛打和退火處理之后進行。

4.1.3.2 硬度的測定僅適用于B型試塊的原材料。

4.1.3.3 在同一批經(jīng)過退火處理的原材料中應至少取出一份樣品測其晶粒度和硬度。晶粒度的等級評定按照GB 6394的規(guī)定進行。硬度的測定按照GB230的規(guī)定進行。

4.1.3..4 如果一次測定結果不合格,允許重新取樣進行**次測定,但應至少取出三份樣品,并且只要其中有一份樣品的測定結果不合格,則必須重新進行有關的工藝處理,使其達到合格。

4.1.3.5 為使晶粒度和硬度達到技術要求,其工藝處理*多只允許重復一次。

4.2B型試塊的出廠檢驗

4.2.1檢驗項目、檢驗方法、檢驗要求見表1。

                         表      1

    注: 不排除使用其他有效方法進行檢驗.

4.2.2檢驗不合格的試塊不得進入成品庫,更不允許通過任何渠道流入無損探傷的商品市場。

4.3E型試塊的出廠檢驗

4.3.1外環(huán)的檢驗

4.3.1.1外環(huán)的檢驗項目、檢驗方法、檢驗要求按表2。

4.3.1.2 檢驗不合格的外環(huán)不得進入成品庫,更不允許通過任何渠道流入無損探傷的商品市場。

4.3.2內環(huán)和導電芯棒的檢驗

4.3.2.1 內環(huán)的檢驗項目為內徑、外徑和長度,導電芯棒的檢驗項目為直徑和長度。

4.3.2.2 內環(huán)的內徑用專門的塞規(guī)檢驗,外徑用千分尺或者專門的卡規(guī)檢驗,長度用普通直尺或專用的卡規(guī)檢驗。

4.3.2.3 導電芯棒的直徑用千分尺或者專門的卡規(guī)檢驗,長度用普通直尺或者專用的卡規(guī)檢驗。

4.3.2.4 根據(jù)第4.3.2.2條和4.3.2.3條檢驗的結果都應當符合圖2的規(guī)定。檢驗不合格的內環(huán)和芯棒允許結合第4.4.2條規(guī)定酌情回收利用。

4.4B型試塊組裝后的檢驗

4.4.1主要檢驗項目

    a. 內、外環(huán)是否位于導電芯棒的中間位置。

    b. 外環(huán)和內環(huán)之間,內環(huán)和芯棒之間是否符合緊配合要求。

4.4.2如果外環(huán)和內環(huán)之間或內環(huán)與芯棒之間只有一個配合不緊密,并且間隙不大于0.05mm,允許采用加墊紫銅箔或者使用粘接劑的方法使其達到緊配合。

4.5型式檢驗

4.5.1在下述情況時,應進行型式檢驗;

    a. 試制定型鑒定時;

    b. 正式生產(chǎn)后,工藝有較大改變時;

    c. 正常生產(chǎn)中,每個生產(chǎn)周期的初始階段(例如每隔半年進行一次型式檢驗);

    d. 產(chǎn)品長期停產(chǎn)后,恢復生產(chǎn)時;

    e. 國家質量監(jiān)督機構提出型式檢驗要求時。

4.5.2B型試塊的型式檢驗項目包括表1所列的全部項目和第4.1條所規(guī)定的原材料檢驗項目。

4.5.3E型試塊的型式檢驗項目包括表2所列的全部項目和第4.1條所規(guī)定的原材料檢驗項目。

4.5.4型式檢驗的試樣為出廠檢驗合格的產(chǎn)品試塊,任選三塊,在每塊試塊上都必須完成第4.5.2條和4.5.3條中規(guī)定的檢驗項目。

4.5.5對原屬原材料的檢驗項目(如化學成分、晶粒度、硬度),在型式檢驗時改在被檢試塊上進行。

4.5.6型式檢驗不合格時,應對試塊的生產(chǎn)進行必要的整頓。

4.6購到試塊的用戶,有權對試塊的各項技術要求進行復驗,如果復驗后能拿出充足證據(jù)說明試塊不符合技術要求,在購到試塊后的3個月內,或者在合同的有效期內,制造單位應接受用戶的更換或者退貨要求。

                               表     2

    注: 不排除使用其他有效方法進行檢驗.

5標志和包裝

5.1標志

5.1.1試塊上應具有下述長久性標記:

    a. 制造單位的名稱或商標;

    b. 試塊的出廠編號。    

5.1.2B型試塊上的長久標記們于試塊的端平面上,可以集中在某一個端平面上,也可以分散于兩端平面上,但是不得有礙于φ1.78通孔。

5.1.3E型試塊上的長久標記位于內環(huán)上未被外環(huán)蔗住的圓柱或端平面上,可以集中在一端,也可以分散于兩湍。

5.1.4制造單位的名稱可以是全稱、簡稱或者縮寫字母。

5.2包裝

5.2.1可采用木盒或其他包裝盒進行包裝。

5.2.2B型試塊在包裝前應把整個表面涂上防銹油,E型試塊在包裝前應至少把外表面涂上防銹油。

5.2.3包裝盒內應隨帶產(chǎn)品合格證和產(chǎn)品說明書。合格證上應標明產(chǎn)品名稱、出廠日期和檢驗人員代號。

6使用注意事項

6.1試塊使用前應當用浸有煤油等溶劑的棉球將防銹油擦凈。

6.2B型試塊適用于磁化電流為直流電和整流電的探傷,使用前應進行退磁,使用時要用一根直徑為29±1mm、長度不小于400mm的銅棒或鋁合金棒插入試塊內孔作為導電芯棒。

6.3E型試塊適用于磁化電流為交流電的探傷,允許在不退磁的情況下使用。

6.4試塊用畢后應參照第5.2.2條的規(guī)定涂上防銹油置于包裝盒內貯放。B型試塊還應當在涂防銹油之前進行退磁處理。

6.5當試塊表面出現(xiàn)銹斑時,應及時用防銹劑或細砂紙將其去除。

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    附加說明:

    本標準由國內無損檢測標準化技術委員會提出。

    本標準由機械電子工業(yè)部上海材料研究所歸口。

    本標準由航空航天部六二一所、機械電子工業(yè)部上海材料研究所負責起草。

    本標準主要起草人傅洋、徐立賢。

機械電子工業(yè)部1992-05-05批準            1993-07-01實施