中華人民共和國機械行業(yè)標準
JB /T 6065-92
磁粉探傷用標準試片
----------------------------------------------------------------------------
主題內容與適用范圍
本標準規(guī)定了磁粉探傷用A型、C型、D型三種標準試片的技術要求、檢驗方法、標志、包裝和使用方法。
本標準適用于磁粉探傷用A型、C型、D型三種標準試片的產品質量評定,這三種標準試片主要來檢查連續(xù)法探傷中磁粉探傷裝置、磁粉、磁懸液的綜合性能以及被檢測工件表面有效磁場強度、磁場方向和試驗操作是否適當。
2引用標準
GB 6985 電磁純鐵冷軋薄板
ZB J04 006 鋼鐵材料的磁粉探傷方法
JB/T 6063 磁粉探傷用磁粉技術條件
3技術要求
3.1材料
3.1.1A 型、C型、D型三種標準試片均采用DT4A電磁純鐵板制造。
3.1.2原材料的供貨狀態(tài)應符合GB6985的規(guī)定,材料軋制到試片厚度后,應在600℃真空或惰性氣體保護下進行退火處理,保溫1h,然后爐泠至100℃以下。
3.2標準試片的形狀及尺寸
3.2.1A型、C型、D型三種標準試片的型號名稱和型式尺寸見表1。在A型標準試片中又分為A1、A2、A3三種。
表 1
類 型 | 型 號 名 稱 | 圖 形 及 尺 寸 mm |
A | A1--7/50, A1--15/50 A2--7/50, A2--15/50 A3--7/50, A3--15/50 A1--15/100, A1--30/100 A2--15/100, A2--30/100 A3--15/100, A3--30/100 | |
C | C--8/50, C--15/50 | |
D | D--7/50, D--15/50 | |
注:①型號名稱的分數,分子表示試片人工缺陷槽的深度,分母表示試片的厚度,單位為μm
②試片的人工缺陷均位于試片的幾何圖形中央部位.
3.2.2試片外形尺寸應符合表2 的規(guī)定。試片外觀表面應光亮而無劃傷、點蝕坑和銹斑等缺陷,也不能有毛剌、折痕或明顯的變形,兩個大面的表面粗糙度參數Ra為0.8μm。
表 2
試 片 類 型 | 試 片 邊 長 mm 基本尺寸 偏差 | 試片厚度 μm 基本尺寸 偏差 |
A | 20x20 | ±1 | 50 100 | ±5 ±10 |
C | 10x5(單片) | ±1 | 50 | ±5 |
D | 10x10 | ±1 | 50 | ±5 |
3.2.3試片上的人工缺陷應由U形槽或者近似于U形的槽構成,槽的寬度和深度應符合表3的規(guī)定。
表 3
試片型號名稱 | 人工缺陷槽深度 基本尺寸 偏 差 | 人 工 缺 陷 槽 寬度范圍 |
A-7/50 | 7 | ±1.5 | 50~80 |
A-15/50 | 15 | ±3.0 | 50~90 |
A-15/100 | 15 | ±3.0 | 50~90 |
A-30/100 | 30 | ±6.0 | 60~110 |
C-8/50 | 8 | ±1.5 | 50~80 |
C-15/50 | 15 | ±3.0 | 50~90 |
D-7/50 | 7 | ±1.5 | 50~80 |
D-15/50 | 15 | ±3.0 | 50~90 |
3.2.4人工缺陷的直徑、長度應符合表1的規(guī)定。
4檢驗規(guī)則和檢驗方法
4.1原材料的檢驗
4.1.1原材料的化學分析
4.1.1.1 在同一爐號(或批號)的原材料中,應至少抽取1份樣品進行化學分析,分析結果應符合GB 6985的規(guī)定。
4.1.1.2 如果第1份樣品的取樣分析結果不符合GB 6985的規(guī)定,允許重新取樣作**次分析,每次所取樣品數量應不少于3份,但是只要其中之一的分析結果不符合GB6985的規(guī)定,則不允許使用這一爐號(或批號)的原材料制造試片。
4.1.2原材料的厚度檢驗
軋制成試片厚度的原材料應至少選擇3個檢驗點測量其厚度,測量結果應符合表2的要求。
4.2試片的檢驗
4.2.1每片試片都必須按照表4規(guī)定的檢驗項目、檢驗方法、檢驗要求進行檢驗。
表 4
檢驗項目 | 檢驗方法 | 檢驗要求 | 備 注 |
外觀 | 用目視法進行檢驗 | 應符合3.2.2條的 規(guī) 定 | |
邊長 | 用普通直尺進行檢驗 | 應符合表2的規(guī)定 | |
人工缺陷的 直徑和長度 | 用普通直尺進行檢驗 | 應符合表1的規(guī)定 | 允許采用抽樣法在每批試 片中抽取數片進行檢驗 |
試片厚度 | 用千分尺進行檢驗 | 應符合表2的規(guī)定 | |
人工缺陷槽的 形狀、寬度、深度 | 用體視顯微鏡進行 檢驗 | 應符合3.2.2條和 表3的規(guī)定 | *少檢測點用符號 “x”示于圖1 |
圖1 標準試片*少檢測點及標志位置圖
4.2.2檢驗不合格的試片不得進入成品庫,更不得通過任何渠道流入無損檢測商品市場。
4.3出廠檢驗和型式檢驗
4.3.1試片的出廠檢驗和型式檢驗都由原材料檢驗和試片的檢驗兩部分組成。
4.3.2出廠檢驗的化學分析和厚度檢驗在原材料上進行,型式檢驗的化學分析和厚度檢驗在生產檢驗合格的產品上進行。
4.3.3在發(fā)生下述任意一種情況或者同時發(fā)生幾種情況時,應進行型式試驗:
a. 試驗定型鑒定時;
b. 正式生產后,工藝有較大改變時;
c. 正常生產中,每個生產周期的初始階段(例如每隔半年進行一次型式檢驗);
d. 產品長期停產后,恢復生產時;
e. 國家質量監(jiān)督機構提出型式檢驗要求時。
4.3.4在從生產檢驗合格的試片中抽取型式檢驗試樣時,被抽取的數量不得少于10片。
4.3.5型式檢驗不合格時,應對試片的生產進行必要的整頓。
5標準試片的標志和包裝
5.1標志
5.1.1標準試片的型號名稱應蝕刻在試片的有槽面上,如圖1所示,左上角是型號的英文字母(A型試片還應分為:A1、A2、A3三種),右下角是槽深與試片厚度之比的分式。
5.1.2試片的包裝物應標明制造單位或商標。
5.2包裝
5.2.1應采用能有效防止試片損傷的專用包裝盒或皮夾包裝。
5.2.2包裝前試片表面需涂以防銹油。
5.2.3包裝盒內應隨帶產品合格和產品說明書。合格證上應標明產品型號名稱、出廠日期和檢驗人員代號。
6使用方法
6.1試片投入使用前,應按實際檢測條件,采用附錄A(參考件)中規(guī)定的檢驗方法,找出能使人工缺陷出現磁痕顯示的臨界電流值(即*小磁化電流值),并加以記錄。
6.2在6.1條測試過程中,探傷人員也可以根據實際需要,選用其他尺寸和形狀的鋼制品代替附錄A中規(guī)定使用的鋼棒。在試片使用一段時期后,需要對臨界電流值進行復驗,復驗時,也應當保持同樣測試條件。
6.3根據工件探傷面的超聲波、形狀和所需的有效磁場強度選取合適的試片類型:探傷面大時可選用A型,探傷面窄小或表面曲率半徑小時可選用C型或D型;探傷所需的有效磁場較弱時選用分數值較大的試片,較強時選用分數植較小的試片,當探傷所需有效磁場強度超過某試片所對的磁場強度上限,而又需要使用該試片時,可采用該試片型號名稱的倍數來表示(例如:用A-7/50x2表示進行探傷的磁化電流為A-7/50試片臨界磁化電流的2倍)。
6.4標準試片投入使用時,應先用浸有煤油等防銹油溶劑的棉球將防銹油擦凈。C型試片使用前須先沿分割線剪切成5mmx 10mm的小片(也可整條片子使用)。用膠帶紙或其他方法將試片有槽面與工件受檢范圍的表面相接觸(間隙應小于0.1mm),膠帶紙不得蓋住試片上有槽的部位。
6.5應經常對試片的形狀、尺寸、磁特性(包含人工缺陷上磁痕顯示的一致性和臨界電流值兩個方面)進行復驗。如果根據復驗結果能夠證實某試片的性能已發(fā)生變化時,則該試片應停止使用或廢棄。
附 錄 A
關于磁痕顯示情況的檢驗
(參考件)
A1把試片反貼在表面粗糙度參數Ra值為6.3μm的鋼棒圓柱面上(即有人工缺陷的一面與鋼棒圓柱面相接觸,兩者之間的間隙小于0.1mm)。鋼棒材料為經過正火處理的45鋼,尺寸φ50mm X200mm。
A2給鋼棒通以單相交流磁化電流,進行濕法連續(xù)磁化的探傷操作(根據ZB J04 006中有關規(guī)定進行)。
A3在進行A2條的探傷操作時,使用的磁化電流值應符合表A1的規(guī)定,磁粉應符合JB/T6063的規(guī)定。
表 A1
試片型號名稱 | 臨界磁化電流有效值A | 磁痕顯示情況 |
A1--15/50 A3--15/50 A1--30/100 A3--30/100 | (3.5~5.5)D | 圓形槽,1/2周長顯示 |
A1--7/50 A3--7/50 A1--15/100 A3--15/100 | (8~10)D | 圓形槽,1/3周長顯示 |
A2--15/50 A2--30/100 C---15/50 | (2~3)D | 直線槽,初始顯示 |
A2--7/50 A2--15/100 C---8/50 | (4~6)D | 直線槽,初始顯示 |
D---15/50 | (4~6)D | 圓形槽,1/2周長顯示 |
D---7/50 | (9~11)D | 圓形槽,1/3周長顯示 |
注: ①D--鋼柱直徑,為50mm
②表A1系采用浙江銅羅探傷材料廠MB--350型濕式磁粉檢測的結果.
③檢測用的磁懸液由1L煤油加入12g磁粉配成,室溫20-25℃.
A4觀察試片上人工缺陷的磁痕顯示情況
對C型試片,應能見到微細的磁痕顯示。
對A型、D型試片,不但能見到微細的磁痕顯示,而且當試片壓延方向與鋼棒軸線平行時,得到的磁痕顯示應當和與之垂直的磁痕顯示基本一致。
------------------------
附加說明:
本標準由國內無損檢測標準化技術委員會提出。
本標準由航空航天部六二一所負責起草。
本標準主要起草人傅洋、胡大崇。
機械電子工業(yè)部1992-05-05批準 1993-07-01實施