圓形陣列
| 相控陣相對于常規(guī)的單探頭超聲檢測具有明顯的技術(shù)優(yōu)勢：
*速度：相控陣探頭中被選擇的晶片交替激發(fā)，使得電子掃描（E-掃描）能夠?qū)崿F(xiàn)高精度、快速的斷面掃描（扇形S掃描）以及A掃描、滾動(dòng)B掃描和L（線性）掃描，甚至能實(shí)現(xiàn)C掃描，能夠非常快速地覆蓋構(gòu)件，要比常規(guī)單探頭機(jī)械系統(tǒng)快得多，在相同時(shí)間里提供更好的覆蓋。由于能夠一次檢測所有被檢查部份，大大縮短了檢測時(shí)間，相對節(jié)約成本，減少掃查時(shí)間，減輕監(jiān)測人員的勞動(dòng)強(qiáng)度，提高了檢驗(yàn)精度和可靠性。
*適應(yīng)性：設(shè)置可在幾分鐘內(nèi)改變，能夠適應(yīng)很多構(gòu)件的尺寸與幾何形狀變化，能夠適合于形狀復(fù)雜構(gòu)件檢驗(yàn)
*檢驗(yàn)角度：取決于檢測需要和陣列結(jié)構(gòu)，所形成的波束能夠在寬范圍內(nèi)選擇波束角度（檢驗(yàn)角度），使超聲取向*佳化地垂直于預(yù)期的缺陷，例如焊縫中的未熔合
*波束控制（通常為扇形掃描，S-掃描）能以適當(dāng)?shù)暮透嗟慕嵌葤呙璨⒗L出構(gòu)件圖形達(dá)到*佳探測概率。S掃描對于僅有很小掃查位置的情況也是有用的從而比常規(guī)探頭檢驗(yàn)更適應(yīng)掃查接觸面積受限的區(qū)域。
*電子聚焦可以使波束形狀與尺寸在預(yù)期的缺陷位置達(dá)到*佳化，獲得*大覆蓋區(qū)域和*高分辨率，以及*佳的探測概率，獲得*佳信號和高質(zhì)量圖象。聚焦明顯地改善信噪比，而且可以允許在較低的脈沖電壓下工作。
*成像：對缺陷檢測和圖形繪制具有高的分辨率，能夠顯示缺陷“真實(shí)深度”的圖像，因而比常規(guī)的波形顯示更容易解釋，能夠通過預(yù)先編程的專用軟件對掃描采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析評價(jià)，減少檢測人員因素的影響。數(shù)據(jù)可以保存和按需要重現(xiàn)，甚至可以視頻方式記錄和重放。 |
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| 用一個(gè)多晶片探頭進(jìn)行多角度檢測 | 對復(fù)雜的幾何形狀檢測具有很強(qiáng)的靈活性 |
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| 相控陣超聲檢測系統(tǒng)還具備了編寫檢測報(bào)告、支持USB外部存儲媒介以及網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)裙δ堋?/span> |
| 相控陣超聲檢測系統(tǒng)通常由數(shù)據(jù)采集單元、脈沖發(fā)生單元、電機(jī)驅(qū)動(dòng)單元、相控陣探頭、工業(yè)計(jì)算機(jī)、顯示器等組成。系統(tǒng)在Windows 平臺上運(yùn)行專用的操作軟件，完成對被檢工件的掃查、實(shí)時(shí)顯示和結(jié)果評判。 |
| 就目前的相控陣技術(shù)發(fā)展階段而言，較多的是采用比較簡單的二維設(shè)置，復(fù)雜的三維設(shè)置還較少應(yīng)用，因?yàn)槟壳暗南嗫仃囅到y(tǒng)已經(jīng)比常規(guī)的單通道系統(tǒng)昂貴得多。但是，隨著更新型的便攜式儀器的發(fā)展，采用復(fù)雜的三維設(shè)置將能具有更高的速度，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)儲存和顯示，更小的掃查接觸面積，以及更大的適應(yīng)性，從而具備更高的應(yīng)用價(jià)值。 |
| 在超聲檢測中，壓電晶片是用于收集數(shù)據(jù)的。在相控陣應(yīng)用中，相互獨(dú)立的壓電晶片被包裹在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭盒內(nèi)。其引線卷纜通常由良好屏蔽的微細(xì)同軸電纜捆扎組成，通過商品化的多通道連接器與儀器連接。 |
| 壓電元件通常以4到32組發(fā)射脈沖，相控陣探頭上可以承受高達(dá)200V的發(fā)射電壓。采集與分析軟件可根據(jù)操作者輸入的檢驗(yàn)角度、焦距、掃查圖形等設(shè)置來計(jì)算時(shí)間延遲。操作者也可以利用預(yù)先制備的文件（見圖2）。軟件根據(jù)單獨(dú)的“聚焦規(guī)則”，依據(jù)焦點(diǎn)和掃查組合的時(shí)間渡越來計(jì)算返回的時(shí)間延遲。相控陣儀器的時(shí)間延遲電路應(yīng)能接近2ns精度以提供所需要的相位精度。 |
圖2
| 在脈沖激發(fā)下，每個(gè)壓電元件產(chǎn)生一個(gè)波束。這些波束因?yàn)榀B加和相消干涉形成波前。相控陣儀器對各單獨(dú)通道發(fā)射脈沖是具有時(shí)間延遲的，從而能按規(guī)定形成一個(gè)預(yù)先計(jì)算的波前。對于接收，儀器則有效地完成逆轉(zhuǎn)。例如，儀器接收的信號具有預(yù)先計(jì)算的時(shí)間延遲，綜合時(shí)間變化的信號，然后顯示出來（見圖3）。
綜合得到并顯示的波形與探傷儀具有同樣角度、頻率、聚焦孔徑等的探頭信號通道同樣有效。圖4為聚焦的標(biāo)準(zhǔn)波束和切變波掃查圖形示例。 軟件 |
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圖3相控陣探頭的發(fā)射與接收
| 相控陣儀器其中的一個(gè)非常重要的關(guān)鍵是軟件。因?yàn)橄嗫仃嚹芴峁┫喈?dāng)可觀的應(yīng)用適應(yīng)性，這取決于軟件的多功能性。應(yīng)用軟件要能夠強(qiáng)有力地管理超聲檢測信號的采集。除了處理計(jì)算聚焦規(guī)則以外，要求軟件具有強(qiáng)大的編碼能力和全數(shù)據(jù)儲存、顯示結(jié)果，具備良好的數(shù)據(jù)處理能力等。
相控陣檢驗(yàn)可以是手動(dòng)，半自動(dòng)，或者全自動(dòng)，取決于應(yīng)用，速度，預(yù)算等要求。
軟件能夠節(jié)約用戶的時(shí)間和精力。雖然對于初次設(shè)置準(zhǔn)備時(shí)需要耗費(fèi)一定的時(shí)間，但是信息被記錄在文件中后可以**次重新加載提取，而修改一個(gè)已制定的設(shè)置是很快速的，這與常規(guī)探頭的調(diào)整是截然不同的，這也與目前越來越廣泛使用的數(shù)字化超聲探傷儀的使用程序是相同的道理。 |
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圖4掃查圖形示例
| 從實(shí)際應(yīng)用的觀點(diǎn)來看，超聲相控陣僅僅是一種發(fā)生和接收超聲波的方法。一旦超聲波進(jìn)入材料中，它就與發(fā)生方法無關(guān)，無論是壓電，電磁，激光或者相控陣。因此，超聲檢驗(yàn)的許多細(xì)節(jié)是保留不變的。例如，對于常規(guī)超聲，5MHz是*佳的檢驗(yàn)頻率，而相控陣也利用同樣的頻率，聚焦孔徑尺寸，聚焦長度，以及入射角。
和常規(guī)超聲檢測一樣，相控陣也是利用掃查來采集數(shù)據(jù)。但是其激發(fā)電脈沖和超聲波的接收則對于掃查圖形的變化提供了重要的信息。相控陣的掃描方式： |
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| 電子線性掃描 |
| 電子線性掃描（E-掃描）是通過多路技術(shù)以相同的聚焦規(guī)則（時(shí)間延遲）沿陣列來實(shí)現(xiàn)的（見圖5）。典型的陣列可達(dá)到128個(gè)壓電元件。E掃描能夠?qū)崿F(xiàn)用一個(gè)緊湊的焦點(diǎn)來快速覆蓋。如果陣列是平面并且線形的，則掃查圖形是簡單的B掃描。如果陣列是曲面的，則掃查圖形也將是曲面的。E掃描可以通過簡單編程實(shí)現(xiàn)。例如，一個(gè)相控陣可以容易地通過編程實(shí)現(xiàn)腐蝕繪圖，或者利用45°和60°橫波檢查焊縫，模擬常規(guī)的ASME手工檢驗(yàn)。 |
圖5動(dòng)態(tài)聚焦示意圖（可實(shí)現(xiàn)無機(jī)械運(yùn)動(dòng)的高速掃查）
| 常規(guī)手工超聲焊縫檢驗(yàn)是利用一個(gè)單探頭實(shí)施的，操作者進(jìn)行前后“掃描”以覆蓋焊接區(qū)域。許多自動(dòng)化焊接檢驗(yàn)系統(tǒng)也是利用類似的方式（見圖6a），使用一個(gè)單探頭前后掃查覆蓋焊接區(qū)域。這是很消耗時(shí)間的，而且在掃查開始和結(jié)束時(shí)系統(tǒng)還有盲區(qū)。
作為對照，相控陣?yán)镁€性掃描方式（見圖6b）。通常使用兩個(gè)陣列探頭分布于焊縫兩側(cè)。它能產(chǎn)生上千種不同的超聲束，可配置40°到70°范圍的掃查角度（β角），以滿足分區(qū)掃查所需要的各種角度。這里探頭是線性地在焊縫周圍或者沿焊縫掃查，每個(gè)探頭掃過焊縫的整個(gè)規(guī)定區(qū)域。它常?？梢岳孟嗫仃噷?shí)現(xiàn)更多的波束（相當(dāng)于單獨(dú)的常規(guī)探頭）同時(shí)掃描。線性掃描是*簡單的方式，例如用于軋管、ERW焊接管的檢驗(yàn)。 |
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圖6a和圖6b
| 扇形掃描 扇形掃描（S-掃描）是相控陣所獨(dú)有的。它利用同組壓電元件但是由編程改變時(shí)間延遲來控制波束通過一系列角度來實(shí)現(xiàn)掃查。
S掃描的典型應(yīng)用例如一個(gè)固定陣列，掃查橫過一個(gè)相對達(dá)不到的構(gòu)件，如渦輪轉(zhuǎn)子葉片，并繪出葉片的形貌與缺陷（見圖7）。S掃描也可以用于檢驗(yàn)焊縫，但是有一定局限，主要取決于陣列的頻率和壓電元件的間距，扇形掃描的角度可以從±20°到±80°變化。 |
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圖7渦輪轉(zhuǎn)子葉片的扇形掃描
| 組合掃描 組合掃描是結(jié)合了線性掃描、扇形掃描和**聚焦而得到的實(shí)用的綜合顯示（見圖8）。對于焊縫和其他構(gòu)件可以選擇*適宜的角度，在電子掃描中可以快速有效地檢驗(yàn)。例如，結(jié)合線性與縱波的扇形掃描可以在一個(gè)給定的角度范圍內(nèi)使超 |
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| 聲束完全覆蓋被檢驗(yàn)的構(gòu)件，例如±20°。當(dāng)使用簡單的直波束不能充分檢驗(yàn)到所有需要檢查的區(qū)域時(shí)，這種組合掃描的檢驗(yàn)就體現(xiàn)出優(yōu)勢了。在焊縫檢驗(yàn)中，對于給定的焊縫幾何形狀常常要求規(guī)定的角度。對于這些應(yīng)用，可通過針對特定的焊縫傾斜角編程來實(shí)現(xiàn)在規(guī)定的位置上達(dá)到**的波束角度。 |
圖8組合掃描顯示
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| | 以管道環(huán)焊縫的檢測為例，采用區(qū)域劃分法，根據(jù)壁厚、坡口形式、填充次數(shù)將焊縫分成垂直方向上的幾個(gè)區(qū)，每個(gè)分區(qū)高度一般為1~3mm，再由電子系統(tǒng)控制相控陣探頭對其進(jìn)行分區(qū)掃查（每個(gè)區(qū)都由一組獨(dú)立的晶片進(jìn)行掃查），檢測主聲束的角度按照主要缺陷的方向來設(shè)定（例如在自動(dòng)焊中主要是未熔合，即將波束盡量垂直于熔合線），通常采用聚焦聲束進(jìn)行掃查，焦點(diǎn)尺寸一般為2mm或更小。它們可以有效的檢測各自的區(qū)域，而且臨近區(qū)域反射體上的重疊*小。每個(gè)分區(qū)以焊縫中心線為界，分為上游、下游兩個(gè)通道，其檢測結(jié)果在帶狀圖上以相對應(yīng)的通道顯示出。再輔以TOFD（衍射時(shí)差法）和Ｂ掃描功能，對焊縫進(jìn)行分析、判斷。 |
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