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壓力容器厚度的超聲波測(cè)定

壓力容器厚度的超聲波測(cè)定

 
 

1.1 測(cè)定范圍

表9-10 缺陷按指示長(zhǎng)度分級(jí)表 mm

 

級(jí)別

 板厚T

15-40

>40~80

≤10

≤1/4T

≤15

≤1/3T

指未長(zhǎng)度大于Ⅱ級(jí)者

 

注:當(dāng)對(duì)接焊縫兩側(cè)板厚不同時(shí).以較薄者為準(zhǔn)。
    本章適用于采用數(shù)字直讀式超聲波測(cè)厚儀或A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)壓力容器板材、封頭、筒體和接管厚度進(jìn)行的超聲測(cè)定。

1.2 幾種主要材料的聲速范閣
    幾種主要材料的聲速范圍,見(jiàn)表10-1。使用時(shí),如有必要,應(yīng)對(duì)材科進(jìn)行實(shí)際聲速測(cè)定。

表10 -1 幾種主要材料的聲速 m/s 在用雙晶直探頭測(cè)定時(shí),將分割面的方向轉(zhuǎn)動(dòng)90°,在同一測(cè)定點(diǎn)測(cè)兩次的測(cè)定方法。測(cè)定值以小的數(shù)值為準(zhǔn)。
    1.8.3 ф30mm多點(diǎn)測(cè)定法
    當(dāng)測(cè)定值不穩(wěn)定時(shí),以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為中,心在30mm的范圍內(nèi)進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)定。測(cè)定值以*小值為HE。
   
1.8.4 管子壁厚的測(cè)定方法
    單直探頭測(cè)定時(shí),應(yīng)使探頭中心線(xiàn)與管軸中心線(xiàn)相垂直,并通過(guò)管鈾中心,使用雙晶直探頭測(cè)定時(shí),探頭分割線(xiàn)必須與管軸中心線(xiàn)垂直。

 

材料名稱(chēng)

不銹鋼

鑄鐵

縱波聲速

6300

5900

5800

4700

4310

6240

4170

2170

3500~5600

 

1.3 儀器及探頭
    1.3.1 超聲波測(cè)厚儀的精度應(yīng)達(dá)到±(T%十0.1)mm,T為壁厚。
    1.3.2 超聲測(cè)厚通常采用直接接觸式單晶直探頭,也可采用帶延遲塊的單晶直探頭和雙晶直探頭。
    1.3.3 高溫試件的壁厚測(cè)定需用特殊高溫探頭。

1.4 校正試塊
    1.4.1 試塊的基本要求和尺寸見(jiàn)圖10—1。
    1.4.2 測(cè)定曲面工件厚度時(shí),應(yīng)使用同一曲率的試塊,或者對(duì)平面試塊加以修正。

1.5 耦合劑
    應(yīng)根據(jù)被測(cè)件的表面狀況及聲阻抗,選用無(wú)氣泡、粘度適宜的耦臺(tái)劑,如甘油、機(jī)油、硅膠、水玻璃和漿糊等。若工件表面粗糙,則應(yīng)選擇比較稠的耦臺(tái)劑。

1.6 儀器校正
   
1.6.1 超聲波測(cè)厚儀的校正
    a. 采用臺(tái)階試塊,分別在厚度接近待測(cè)厚度的*大值和待測(cè)厚度的*小值(或待測(cè)厚度*大值的1/2)進(jìn)行校正。
    b.將探頭置于較厚試塊上,調(diào)整“聲速校正”旋鈕,使測(cè)厚儀顯示讀數(shù)接近已知值。
    c.將探頭置于較薄的試塊上,調(diào)整“零位校正”旋紐,使測(cè)厚儀顯示讀數(shù)接近已知值。
    d.反復(fù)調(diào)整,使量程的高低兩端都得到正確讀數(shù),儀器即告調(diào)試完畢。
    e.若已知材料聲速,則可預(yù)先調(diào)好聲速值,然后在儀器附帶的試塊上,調(diào)節(jié)“零位校正”旋鈕,使儀器顯示水為試塊的厚度,儀器即調(diào)試完畢。
   
 1.6.2 超聲波探傷儀的校正
    a.同1.6.1 a。
    b.探頭置于較厚試塊上,調(diào)節(jié)儀器“掃描范圍”旋鈕.直到底面回波出現(xiàn)在相應(yīng)刻度位置上。
    c.探頭置于較薄試塊上,調(diào)節(jié)儀器“延遲掃描”旋鈕,直到底面回波出現(xiàn)在相應(yīng)刻度位置上。
    d.反復(fù)調(diào)整,直到在厚,薄試塊上的底面回波均出現(xiàn)在正確的刻度位置,儀器即告調(diào)整完畢。

1.7 測(cè)定準(zhǔn)備
    測(cè)定面上存在的浮銹、鱗皮或部分脫離的涂膜應(yīng)進(jìn)行清洗,必要時(shí)可用砂輪進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ァ?/font>

1.8 測(cè)定方法
    在測(cè)定點(diǎn)只進(jìn)行一次測(cè)定的方法,一般適用于單晶直探頭的場(chǎng)合。
    1.8.2 二次測(cè)定法
   

1.9 測(cè)定值異常時(shí)的處理
    在采用超聲調(diào)厚儀測(cè)定時(shí).有時(shí)會(huì)出現(xiàn)異常值,必須進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚怼?br>   
1.9.1 沒(méi)有顯示值
    若工件曲率半徑太小或背面有大量點(diǎn)腐蝕時(shí),測(cè)厚儀會(huì)沒(méi)有顯示值,這時(shí)應(yīng)采用超聲波探傷儀進(jìn)行輔助測(cè)定。
    1.9.2 顯示值為實(shí)際厚度的兩倍左右
    工件壁厚小于3mm,且背面比較光滑.為避免測(cè)厚儀的顯示值有時(shí)為實(shí)際厚度的兩倍,這時(shí)應(yīng)采用小測(cè)距探頭或?qū)S锰筋^。
    1.9.3 顯示值比實(shí)際厚度小
    當(dāng)存在夾雜、夾層等內(nèi)部缺陷時(shí),測(cè)厚儀顯示值常小于公稱(chēng)厚度的70%,這時(shí)應(yīng)采用超聲探傷儀對(duì)測(cè)定點(diǎn)周?chē)M(jìn)行檢測(cè),確認(rèn)是否是受缺陷的影響,探頭可采用直探頭或斜探頭。

1.10 報(bào)告
    報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容:
    a.工件名稱(chēng)、材質(zhì)、編號(hào)、委托單位;
    b.儀器型號(hào)、探頭、試塊、耦合劑、測(cè)定方法;
    G.測(cè)量部位和數(shù)據(jù)、測(cè)量部位草圖、測(cè)量數(shù)據(jù)的*大值和*小值,
    d.操作人員、校核人員;
    e.測(cè)定日期。


 
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