渦流法（非磁性金屬集體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量）

1.標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4957─1985，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流儀器無損測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法，該方法適用于測量大多數(shù)陽極氧化覆蓋層的厚度，但不適用于測量所有薄的轉(zhuǎn)化膜。

2.測量原理：渦流測厚儀的測厚裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場，使置于測頭下面的導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與側(cè)頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)。

      磁性法（磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量）

1.標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4956─1985，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測厚儀器無損測量磁性金屬基體上非磁性（包括釉瓷和搪瓷）覆蓋層厚度的方法，該方法適用于平試驗(yàn)上的測量，不適用于非磁性基體上覆蓋層的測量。

2.測量原理：磁性測厚儀是測量長久磁鐵（側(cè)頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化，或者是測量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁助的變化。