曲軸的探測(cè) 曲軸的探測(cè)以直探頭為主，一般在主軸頸、曲柄銷及扇板上進(jìn)行。必要時(shí)，可用斜探頭做輔助探測(cè)，如下圖1，用斜探頭探測(cè)近軸頸過度區(qū)圓角處或軸鍵槽處的裂紋時(shí)，應(yīng)注意選擇聲束的入射方向，如圖2。探測(cè)時(shí)還應(yīng)注意油孔反射波與缺陷波的區(qū)別。

  （二）盤類鍛件的探傷 盤類鍛件（如汽輪機(jī)葉輪）是在高溫、高壓、高速下工作的，不允許存在白點(diǎn)、裂紋等缺陷。需探測(cè)的葉輪表面光潔度不應(yīng)低于?6，超聲波探傷儀探測(cè)部位應(yīng)以缺陷集中且承受應(yīng)力*大的輪殼為主。葉輪中的缺陷多垂直于鍛壓方向，故應(yīng)以鍛壓方向垂直的端面作為主要探測(cè)面。探測(cè)時(shí)，以直探頭為主。直探頭探測(cè)能有效的發(fā)現(xiàn)平行于探測(cè)面的缺陷。同時(shí)，可用斜探頭（或直探頭在葉輪外圓周上）探測(cè)與葉輪端面垂直或傾斜的缺陷，如下圖所示。

  使用過的葉輪，主要是發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋。因此探傷儀探測(cè)區(qū)域應(yīng)選擇承受應(yīng)力*大的部位，如輪殼，鍵槽，螺紋孔以及輪面與輪緣的過渡區(qū)域的截面等，如下圖示，用斜探頭在輪殼外圓上探測(cè)時(shí)，可發(fā)現(xiàn)輪殼內(nèi)的徑向缺陷和鍵槽處的缺陷。當(dāng)探頭主聲束射至鍵槽時(shí)，則出現(xiàn)強(qiáng)烈的鍵槽反射波，找到鍵槽反射波后，將探頭繼續(xù)向前移動(dòng)，若在鍵槽反射波的附近出現(xiàn)反射波時(shí)，則鍵槽處存在裂紋。

  環(huán)形鍛件（如發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)）中的缺陷具有各種方向，探測(cè)時(shí)，應(yīng)由不通過方向分別用直探頭和斜探頭進(jìn)行。用直探頭在護(hù)環(huán)的外圓表面進(jìn)行周向探測(cè)，以發(fā)現(xiàn)護(hù)環(huán)內(nèi)大部分缺陷，必要時(shí)，還應(yīng)在端面進(jìn)行探測(cè)。為發(fā)現(xiàn)裂紋，可用斜探頭（30°,40°）從護(hù)環(huán)外圓表面作周向和軸向探測(cè)，如下圖所示，使用過的護(hù)環(huán)，主要用斜探頭探測(cè)其內(nèi)外表面的裂紋，對(duì)通風(fēng)孔邊緣的裂紋尚可用表面波探測(cè)。