相控陣探傷儀：
1.實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；  
2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態(tài)深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；  
3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現其它常規(guī)檢測技術所不能實現的功能，如對復雜工件檢測；  
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；  
5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環(huán)境無污染；  
6、檢測結果受人為因素影響小，數據便于儲存、管理和調用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。  
7、相控陣探傷儀可以節(jié)省許多成本費用，一探頭+各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內部網路可以直接發(fā)送質檢報告到數據中心查閱。
尊敬的客戶們：
    您好，我司是一支技術量雄厚的高素質的開發(fā)群體，為廣大用戶提供高品質產品，完整的解決方案和上等的技術服務公司。主要產品有：磁粉探傷儀、渦流探傷儀、超聲波探頭等。
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