中華人民共和國專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
ZBJ04 005-87
滲透探傷方法
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)表面開口缺陷的滲透探傷方法及缺陷顯示痕跡的等級(jí)分類。
1 一般事項(xiàng)
1.1探傷前應(yīng)預(yù)先考慮到被檢物表面上可能出現(xiàn)的缺陷種類及大小，被檢物的用途、表面粗糙度、數(shù)量和尺寸以及探傷劑的性質(zhì)，然后選擇適當(dāng)?shù)姆椒按_定操作細(xì)則。
1.2 本標(biāo)準(zhǔn)中的等級(jí)分類適用于*終加工面上缺陷的顯示痕跡。合格等級(jí)應(yīng)事先由供需雙方協(xié)商確定。
1.3 從事探傷或缺陷等級(jí)評(píng)定的人員，必須持有國家有關(guān)主管部門頒發(fā)的并與其工作相適應(yīng)的無損檢測人員技術(shù)資格證書。
1.4 滲透探傷劑應(yīng)配套使用，不同型號(hào)的滲透探傷劑不能混用。
2 術(shù)語定義
2.1 滲透時(shí)間 指施加滲透劑到開始乳化處理或清洗處理之間的時(shí)間，包括排液所需的時(shí)間。
2.2 乳化處理 將乳化劑施加到被檢物表面的操作。
2.3 乳化時(shí)間 從施加乳化劑到開始清洗處理的時(shí)間。
2.4 去除處理 擦去附著在被檢物表面的溶劑去除型滲透劑的操作。
2.5顯象處理 在干式顯象法中，指施加顯象劑到開始觀察的時(shí)間；在濕式顯象法中，指從顯象劑干燥到開始觀察的時(shí)間。
2.6 缺陷顯示痕跡 滲入缺陷中的滲透劑在被檢表面析出時(shí)呈現(xiàn)的痕跡。
2.7 假缺陷顯示 不是由于缺陷所造成的顯示痕跡。
2.8 其它術(shù)語定義參見JB 3111-82《無損檢測名詞術(shù)語》。
3 探傷方法
3.1 探傷方法分類
根據(jù)滲透劑種類和顯像劑種類的不同，滲透探傷方法按表1和表2分類。
表１按滲透劑種類分類的滲透探傷方法
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方 法 名 稱 │ 滲透劑 種 類 │ 方 法 代 號(hào)
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│ 用水洗型熒光滲透劑 │ ＦＡ
熒光滲透 ├─────────────┼──────
│ 用后乳化型熒光滲透劑 │ ＦＢ
探 傷 ├─────────────┼──────
│ 用溶劑去除型熒光滲透劑 │ ＦＣ
───────┼─────────────┼──────
│ 用水型著色滲透劑 │ ＶＡ
著色滲透 ├─────────────┼──────
│ 用后乳化型著色滲透劑 │ ＶＢ
探 傷 ├─────────────┼──────
│ 用溶劑去除型著色滲透劑 │ ＶＣ
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注:用于后乳化型熒光滲透劑的乳化劑有油基和水基兩種.
表２按顯像方法分類的滲透探傷方法
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方 法 名 稱 │ 顯像劑 種 類 │ 方 法 代 號(hào)
───────┼─────────────┼──────
干式顯像法 │ 用干式顯像劑 │ Ｄ
───────┼─────────────┼──────
│ 用濕式顯像劑 │ Ｗ
濕式顯像法 ├─────────────┼──────
│ 用快干式顯像劑 │ Ｓ
───────┼─────────────┼──────
無顯像劑顯像法│ 不用顯像劑 │ Ｎ
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3.2 探傷步驟
按表1、表2中各方法的組合使用，其探傷步驟見表3的順序。
3.3 探傷操作
3.3.1 前處理
3.3.1.1向被檢物表面施加滲透劑前，必須徹底**妨礙滲透劑滲入缺陷的油脂、涂料、鐵銹、氧化皮及污物等附著物以及殘留在缺陷中的油脂及水份。
3.3.1.2根據(jù)附著物的種類、污染程度以及被檢物材質(zhì)的不同，可分別采用溶劑清洗、蒸汽清洗、涂膜剝離、堿洗和酸洗等方法進(jìn)行**處理。不允許采用噴砂、噴丸等可能堵塞缺陷開口的方法。
3.3.1.3 對(duì)被檢物表面進(jìn)行局部探傷時(shí)，準(zhǔn)備工作范圍應(yīng)從探傷部位四周向外擴(kuò)展25mm。
3.3.1.4 準(zhǔn)備工作后，必須使被檢物表面上預(yù)清洗過程中殘留的溶劑、清洗劑和水份等充分干燥。
3.3.1.5 必須根據(jù)ZB J04 003-87《控制滲透探傷材料質(zhì)量的方法》確認(rèn)探傷劑符合要求。
3.3.2 滲透處理
3.3.2.1滲透處理可根據(jù)被檢物的數(shù)量、尺寸、形狀以及滲透劑的種類選用浸漬、噴灑和涂刷等方法，并在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)保持滲透劑將探傷部位的表面全部潤濕。
3.3.2.2滲透時(shí)間取決于滲透劑的種類、被檢物的材質(zhì)、預(yù)測缺陷的種類及大小,以及被檢物和滲透劑的溫度，一般在15-50℃范圍內(nèi)以表4所列時(shí)間為基準(zhǔn)。在3-15℃的范圍內(nèi)應(yīng)根據(jù)溫度適當(dāng)增加滲透時(shí)間；超過5℃或低于3℃時(shí)，則應(yīng)根據(jù)滲透劑的種類和被檢物的溫度等另行考慮決定。
某些特殊滲透劑的滲透時(shí)間可不受表4所限，但在試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)必須加以說明。
表３ 探 傷 步 驟
探傷方 探傷步驟
所使用的滲透劑
和顯象劑種類 法代號(hào)│前處│滲│乳│清│去│干│顯│干│觀│后處
理 透 化 洗 除 燥 像 燥 察 理
水洗型熒光滲透劑-干式顯像劑FA-D o →o------→o-------→o →o------→o---→o
水洗型熒光滲透劑或水洗型著色
滲透劑----濕式顯像劑 FA-W o---→o --·--→o--- ·---→o→o→o--→o
VA-W
水洗型熒光滲透劑或水洗型著色
滲透劑----快干式顯像劑 FA-S o---→o -·--→ o--- ·→o-→o-----→o--→o
VA-S
水洗型熒光滲透劑-不用顯像劑FA-N o---→o-------→o-------→o-------------→o--→o
后乳化型熒光滲透劑-干式顯像劑FB-D o--→o -→o-→o-------→o-→o-----→o---→o
后乳化型熒光滲透劑-濕式顯像劑FB-W o-→o -→o-→o--------------→o-→o→o-→o
后乳化型熒光滲透劑-快干式顯像劑FB-S o→o→o→o-------→o→o-------→o-→o
溶劑去除型熒光滲透劑-干式顯像FC-Do---→o---------------→o-----→o-------→o--→o
溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-Wo---→o---------------→o-----→o--→o→o-→o
溶劑去除型著色滲透劑-濕式顯像劑 VC-W
溶劑去除型熒光滲透劑或 FC-So---→o---------------→o-------→o--------→o→o
溶劑去除型著色滲透劑-快干式顯像劑VC-S
溶劑去除型熒光滲透劑-不用顯像劑FC-No→o------------→o--------------------→o→o
后乳化型著色滲透劑-干式顯像劑VB-D o→o-→o--→o-------→o -→o----→o→o
后乳化型著色滲透劑-濕式顯像劑VB-W o--→o →o--→o--------→o--→o--→o→o
后乳化型著色滲透劑-快干式顯像劑VB-So-→o →o-→o→o→o →o→o→o→o
3.3.2.3 在進(jìn)行乳化或清洗處理前，對(duì)被檢物表面所附著的殘余滲透劑要盡可能滴干。
使用水基乳化劑時(shí)，應(yīng)用水噴法排除多余的滲透劑；如無特殊規(guī)定，水壓一般在14ＭＰa(1.4kgf/平方厘米)左右。
3.3.3 乳化處理
3.3.3.1 可采用浸漬、澆注、噴灑等方法將乳化劑施加于被檢物表面，乳化必須均勻。
3.3.3.2乳化時(shí)間取決于乳化劑和滲透劑的性能及被檢物表面粗糙度。原則上用油基乳化劑的乳化時(shí)間在2min內(nèi)，用水基乳化劑的乳化時(shí)間在5min內(nèi)。
3.3.4 清洗處理和去除處理
3.3.4.1清洗處理和去除處理是為了去除附著在被檢物表面的殘余滲透劑；在處理過程中既要防止處理不足而造成對(duì)缺陷顯示痕跡識(shí)別的困難，同時(shí)也要防止處理過度而使?jié)B入缺陷中的滲透劑也被洗去。用熒光滲透劑時(shí)，可在紫外線照射下邊觀察處理程度、邊進(jìn)行操作。
3.3.4.2水洗型及后乳化型滲透劑均用水清洗，使用噴咀時(shí)的水壓，在沒有特殊規(guī)定情況下應(yīng)不大于34ＭＰa(3.5kgf/平方厘米)。
表4 滲透時(shí)間和顯像時(shí)間(指*少時(shí)間)
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│ │ │各種方法的滲透劑
材 質(zhì) │ 形 態(tài) │ 缺 陷種類 ├────┬────
│ │ │滲透時(shí)間│顯像時(shí)間
│ │ │ min │ min
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鋁、鎂、鋼鐵、黃銅、│鑄件、焊接件 │泠疤、氣孔、熔融 │ 5 │ 7
│ │**、裂紋 │ │
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青銅、鈦、耐熱合金 │軋制棒材、鍛件、板材│鱗狀缺陷、裂紋 │ 10 │ 7
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帶硬質(zhì)合金刀片的工具│ │熔融**、氣孔、斷裂│ 5 │ 7
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塑 料 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7
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玻 璃 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7
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陶 瓷 │ 各種形態(tài) │ 裂 紋 │ 5 │ 7
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注:表中以外的其它缺陷種類，其滲透時(shí)間和顯像時(shí)間不受表4限制.
3.3.4.3溶劑去除型滲透劑用清洗劑去除。除了特別難于去除的場合外，一般都用蘸有清洗劑的布和紙擦拭；不得往復(fù)擦拭，不得將被檢件浸于清洗劑中或過量地使用清洗劑。
3.3.5 干燥處理
3.3.5.1 在使用濕式顯像劑時(shí)，經(jīng)3.3.6.2條處理后，應(yīng)使附著于被檢物表面的顯像劑迅速干燥。
使用干式或快干式顯像劑時(shí)，干燥處理應(yīng)在顯像處理前進(jìn)行。
被檢物表面的干燥溫度應(yīng)控制在示大于52℃范圍。
3.3.5.2 用清洗劑去除時(shí)，應(yīng)自然干燥或用布或紙擦干，不得加熱干燥。
3.3.6 顯像處理
3.3.6.1用干式顯像法時(shí)經(jīng)3.3.5.1條處理后，用適當(dāng)方法將顯像劑均勻地覆蓋在整個(gè)被檢物表面上，并保持一定時(shí)間。
3.3.6.2用濕式顯像劑時(shí)，被檢物經(jīng)清洗或**處理后可直接浸入濕式顯像劑中，也可將顯像劑噴灑、涂刷到被檢物上，然后迅速排除殘余顯像劑，再按3.3.5.1條進(jìn)行處理。
3.3.6.3用快干式顯像劑時(shí)，先要經(jīng)過3.3.5.1條處理，然后再噴灑或涂刷顯像劑，但切不可將被檢物浸于顯像劑中。噴涂上顯像劑后，應(yīng)進(jìn)行自然干燥或用低溫空氣噴吹干燥。
3.3.6.4 用濕式及快干顯像劑時(shí)，顯像劑應(yīng)噴涂得薄而均勻，以略能看出被檢物表面為宜，不要在同一部位反復(fù)涂敷。
3.3.6.5顯像時(shí)間取決于顯像劑的種類、預(yù)計(jì)的缺陷種類和大小以及被檢物的溫度等因素。一般在15-50℃范圍內(nèi)按表4所列的時(shí)間為宜；特殊顯像劑的顯像時(shí)間可不受表4所限，但在試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)必須加以說明。
3.3.7 觀察
3.3.7.1觀察顯示的痕跡應(yīng)在顯像劑施加后7-30min內(nèi)進(jìn)行，如顯示痕跡的大小不發(fā)生變化，則可超過上述時(shí)間。
3.3.7.2 熒光滲透探傷時(shí)，觀察前要有5min以上的時(shí)間使眼睛適應(yīng)暗室，被檢物表面上的標(biāo)準(zhǔn)熒光強(qiáng)度應(yīng)大于50Lx(按GB5097-85黑光源的間接評(píng)定方法測定)。著色滲透探傷時(shí)應(yīng)在350 Lx以上的可見光下進(jìn)行觀察。
3.3.7.3當(dāng)出現(xiàn)顯示痕跡時(shí)，必須確定此痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示；如無法確定，則應(yīng)進(jìn)行復(fù)驗(yàn)或?qū)υ摬糠诌M(jìn)行放大觀察，或用其它方法進(jìn)行驗(yàn)證。
3.3.8 復(fù)驗(yàn)
在探傷過程中探傷結(jié)束后，若發(fā)現(xiàn)下列情況必須重新將試件徹底清洗干凈進(jìn)行檢驗(yàn)：
a. 探傷結(jié)束時(shí)，用對(duì)比試塊(見ZB J04003附錄A)驗(yàn)證；
b.發(fā)現(xiàn)靈敏度下降難以確定痕跡是真缺陷還是假缺陷顯示時(shí)；
C. 供需雙方有爭議或認(rèn)為有其它需要時(shí)；
d.若難于按第6條規(guī)定對(duì)缺陷顯示痕跡作等級(jí)分類時(shí)，必須通過復(fù)驗(yàn)或用供需雙方同意的方法加以驗(yàn)證。
3.3.9 后處理
探傷結(jié)束后，為了防止殘留的顯像劑腐蝕被檢物表面或影響其使用，必要時(shí)應(yīng)**顯像劑。**方法可用刷洗、噴氣、噴水、用布或紙擦除等方法。
4 探傷劑
4.1 探傷劑包括滲透劑、乳化劑、清洗劑、顯像劑。
4.2 探傷劑必須具有良好性能。控制探傷劑的質(zhì)量要求見ZB J04 003。
4.3 在某些特殊要求的場合，例如對(duì)氯、氟含量及含硫量等需要加以限制時(shí)，可由供需雙方協(xié)商。
5 對(duì)比試塊
對(duì)比試塊應(yīng)符合ZB J04 003附錄A的要求。
6 缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類
6.1 缺陷顯示跡痕的種類
缺陷顯示跡痕按其形狀及集中程度可分為三種：
a.線性缺陷顯示跡痕 其長度為寬度三倍以上的缺陷痕跡；
b.圓狀缺陷顯示跡痕 除了線性缺陷顯示跡痕之外的其它缺陷，均為圓狀缺陷顯示跡痕；
C.分散狀缺陷顯示跡痕 在一定區(qū)域內(nèi)存在幾個(gè)缺陷顯示痕跡。
6.2 缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類
6.2.1 線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類根據(jù)其長度按表5進(jìn)行。
表５線狀和圓狀缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類
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等 級(jí) 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度
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１級(jí) │ ≥１ ＜２
─────────────────┼──────────────────
２級(jí) │ ≥２ ＜４
─────────────────┼──────────────────
３級(jí) │ ≥４ ＜８
─────────────────┼──────────────────
４級(jí) │ ≥８ ＜１６
─────────────────┼──────────────────
５級(jí) │ ≥１６ ≥３２
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６級(jí) │ ≥６４ ＜３２
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７級(jí) │ ＜６４
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6.2.2分散狀缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類根據(jù)表6所列數(shù)值進(jìn)行，在2500平方毫米矩形面積內(nèi)(矩形*大邊長為150mm)長度超過1mm缺陷顯示跡痕的總和。
表６分散狀缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類 mm
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等 級(jí) 分 類 │ 缺陷顯示跡痕的長度總和
─────────────────┼──────────────────
１級(jí) │ ≥２ ＜４
─────────────────┼──────────────────
２級(jí) │ ≥４ ＜８
─────────────────┼──────────────────
３級(jí) │ ≥８ ＜１６
─────────────────┼──────────────────
４級(jí) │ ≥１６ ＜３２
─────────────────┼──────────────────
５級(jí) │ ≥３２ ＜６４
─────────────────┼──────────────────
６級(jí) │ ≥６４ ＜１２８
─────────────────┼──────────────────
７級(jí) │ ≥１２８
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6.2.3 當(dāng)有2個(gè)或2個(gè)以上缺陷顯示跡痕大致在同一條連線上、同時(shí)間距又小于2mm
時(shí)，則應(yīng)看作是一個(gè)連續(xù)的線狀缺陷顯示跡痕(包括跡痕長度和間距)。當(dāng)缺陷顯示
跡痕中*短的跡痕長度小于2mm而間距又大于顯示跡痕時(shí)，則可看作單獨(dú)的缺陷顯示跡痕；間距小于顯示跡痕時(shí)，則可看作密集型的缺陷顯示跡痕(參照6.2.2條，按表6評(píng)定缺陷顯示跡痕的長度總和等級(jí))。
7 探傷結(jié)果的標(biāo)識(shí)與記錄
7.1 缺陷顯示
缺陷顯示跡痕可根據(jù)需要分別用照相、示意圖或描繪等方法記錄。
7.2 被檢物表面
探傷后的被檢物表面如需特別標(biāo)明時(shí)，應(yīng)使這些記號(hào)永遠(yuǎn)保留。
7.2.1大批量探傷時(shí)，對(duì)每一個(gè)合格品應(yīng)用印記或腐蝕法以Ｐ符號(hào)標(biāo)識(shí)；如在上述方法有困難時(shí)，可用顏色標(biāo)上Ｐ符號(hào)。用Ｐ符號(hào)標(biāo)識(shí)有困難時(shí)可用標(biāo)色記號(hào)法。在被檢物表面上無法制造標(biāo)記時(shí)，可采用其它方法標(biāo)記。
7.2.2 抽樣探傷時(shí)，對(duì)成批合格產(chǎn)品按7.2.1條方法用Ｐ符號(hào)或標(biāo)色記號(hào)法標(biāo)識(shí)。
7.2.3 在有缺陷的被檢物上涂料或粉筆等標(biāo)出缺陷位置。
7.3 探傷記錄
探傷記錄應(yīng)按試驗(yàn)報(bào)告要求記錄，試驗(yàn)報(bào)告格式內(nèi)容如下：
滲透探傷試驗(yàn)報(bào)告 Ｎo
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委托單位:
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工件名稱及編號(hào):
────────────────────────────────────
檢驗(yàn)?zāi)康?
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被檢區(qū)域:
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探傷環(huán)境氣溫(15℃以下或50℃以上必須記錄):
────────────────────────────────────
滲透劑溫度(15℃以下或50℃以上必須記錄):
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試件形狀和尺寸、材質(zhì)、表面狀態(tài):
探傷方法的種類:
滲透劑、乳化劑、清洗劑、顯像劑的名稱:
操作方法:
a. 探傷前處理方法;
b. 滲透劑施加方法;
C. 乳化劑施加方法;
d. 清洗方法或去除方法;
e. 干燥方法;
f. 顯像劑施加方法。
操作條件:
a. 滲透時(shí)間;
b. 乳化時(shí)間;
C. 清洗水的水壓;
d. 干燥溫度及時(shí)間；
e. 顯像時(shí)間及觀察時(shí)間。
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
探傷結(jié)果:
a.有無缺陷;
b.按照7.1條指出缺陷顯示跡痕的位置與形狀,并附草圖或照相;
C.按照第6條記錄缺陷顯示跡痕的等級(jí)分類。
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探傷人員姓名、技術(shù)資格、探傷日期。
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附加說明:
本標(biāo)準(zhǔn)由上海材料研究所提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)由上海材料研究所負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人密中玉。
國家機(jī)械工業(yè)委員會(huì)批準(zhǔn) 1988-01-01實(shí)施
