中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
鍛制圓餅超聲波檢驗(yàn)方法 GB/T1786-90
代替GB 1786-79
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1 主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用平底孔對(duì)比試塊，以超聲水浸技術(shù)檢驗(yàn)鍛制圓餅（以下簡(jiǎn)稱(chēng)圓餅）方法的適用范圍、檢驗(yàn)人員、檢驗(yàn)儀器和設(shè)備、對(duì)比試塊、檢驗(yàn)條件和步驟、缺陷的評(píng)定、檢驗(yàn)報(bào)告等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于制造轉(zhuǎn)動(dòng)的（如渦**、壓氣機(jī)盤(pán)等）鍛制高溫合金和合金鋼圓餅缺陷的超聲波檢驗(yàn)。其他用途圓餅的超聲波檢驗(yàn)經(jīng)供需雙方協(xié)商可參照使用。
2 引用標(biāo)準(zhǔn)
GB 11259 超聲波檢驗(yàn)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法
ZBY 230 A型脈沖反射式超聲波探傷儀 通用技術(shù)條件
3 人員
檢驗(yàn)應(yīng)由有關(guān)部門(mén)無(wú)損檢驗(yàn)考核委員會(huì)考核，并取得Ⅱ級(jí)或Ⅱ級(jí)以上資格證書(shū)的人員進(jìn)行。
4 檢驗(yàn)儀器和設(shè)備
4.1 儀器
4.1.1 超聲波探傷儀及探頭的頻率應(yīng)根據(jù)檢驗(yàn)要求來(lái)選擇。
4.1.2 超聲波探傷儀及其與探頭組合的性能應(yīng)符合ZBY 230的要求。
4.2 設(shè)備
4.2.1 檢驗(yàn)用的水槽應(yīng)適合于被檢圓餅的要求，槽內(nèi)用水必須清潔，無(wú)影響探傷靈敏度的灰塵、氣泡及懸浮物，水溫應(yīng)保持在10～35℃之間。
4.2.2 槽中放置圓餅的轉(zhuǎn)盤(pán)應(yīng)能使圓餅的軸線(xiàn)對(duì)準(zhǔn)轉(zhuǎn)盤(pán)軸線(xiàn)，誤差±2mm。轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)速至少可在每分鐘1～10轉(zhuǎn)范圍內(nèi)可調(diào)，轉(zhuǎn)盤(pán)可手動(dòng)操縱。
4.2.3 探頭沿圓餅徑向移動(dòng)，以進(jìn)行螺旋式檢驗(yàn)。每轉(zhuǎn)動(dòng)一周，探頭的徑向移動(dòng)間距不超過(guò)有效聲束直徑的二分之一，探頭無(wú)晃動(dòng)，且上下移動(dòng)的距離應(yīng)滿(mǎn)足水距的要求。
4.2.4 探頭角度操縱裝置，應(yīng)能保證探頭在垂直于圓餅表面的平面內(nèi)，在相互垂直的兩個(gè)方向上作連續(xù)地手動(dòng)調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)范圍不小于9°，誤差±0.5°。
4.2.5 應(yīng)配有一個(gè)能**測(cè)量缺陷位置的裝置，以爐號(hào)**數(shù)字作基準(zhǔn)點(diǎn)（見(jiàn)圖1）。
圖1 缺陷位置的標(biāo)記
4.2.6 根據(jù)供需雙方協(xié)議，如有必要可使用下列輔助儀器：自動(dòng)報(bào)警、自動(dòng)記錄和界面跟蹤裝置。
5 對(duì)比試塊
5.1 對(duì)比試塊應(yīng)符合GB 11259的要求。
5.2 對(duì)比試塊的平底孔直徑應(yīng)符合有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或供需雙方協(xié)議的規(guī)定。
6 檢驗(yàn)條件和步驟
6.1 檢驗(yàn)條件
6.1.1 航空發(fā)動(dòng)機(jī)用圓餅，檢驗(yàn)面應(yīng)用圓刀頭加工，其表面粗糙度Ra值應(yīng)不大于6.3μm 。
6.1.2 其他用途的圓餅，被檢驗(yàn)面應(yīng)無(wú)影響檢驗(yàn)靈敏度的錘花、麻坑、松動(dòng)的氧化皮和污物，被檢圓餅上下面的不平行度均不得大于2°。
6.1.3 圓餅的標(biāo)記必需打在側(cè)面。
6.2 檢驗(yàn)步驟
6.2.1 “距離—振幅曲線(xiàn)”的繪制
按附錄A所規(guī)定的方法繪制探頭在水中的“距離—振幅曲線(xiàn)”，以確定*佳水距及*合適的工作范圍。
6.2.2 有效聲束直徑的測(cè)量
有效聲束直徑以埋藏深度較小的平底孔試塊在N點(diǎn)上（見(jiàn)圖A2），用6dB法測(cè)量?jī)牲c(diǎn)的距離。
6.2.3 靈敏度的調(diào)整
6.2.3.1 調(diào)整儀器靈敏度的試塊應(yīng)采用在測(cè)試范圍內(nèi)平底孔反射波高中*低的試塊，以確定*佳水距。
6.2.3.2 調(diào)整探頭的位置及角度，使試塊表面的回波幅度達(dá)到*大。
6.2.3.3 將儀器的抑制旋鈕放到“0”或“關(guān)”的位置，并且在檢驗(yàn)過(guò)程中保持不變。
6.2.3.4 調(diào)整探頭位置和儀器的增益控制，使試塊中平底孔反射波高達(dá)到熒光屏滿(mǎn)刻度的80%，在此靈敏度下，測(cè)量表面分辨率應(yīng)小于圓餅厚度的二分之一。保持此靈敏度不變，對(duì)圓餅進(jìn)行檢驗(yàn)。
6.3 圓餅的檢驗(yàn)
6.3.1 將圓餅準(zhǔn)確放置在水槽中的轉(zhuǎn)盤(pán)上，調(diào)整探頭至圓餅上表面的距離，使其達(dá)到*佳水距。
6.3.2 調(diào)整探頭角度，使圓餅上表面的回波幅度達(dá)到*大。
6.3.3 按6.2.3.4條所確定的靈敏度從圓餅中心開(kāi)始以螺旋方式對(duì)整個(gè)圓餅進(jìn)行檢驗(yàn)，檢驗(yàn)線(xiàn)速度不得大于10m/min。
6.3.4 將圓餅翻面，再次進(jìn)行6.3.1～6.3.3條的檢驗(yàn)過(guò)程。
6.3.5 必要時(shí)，經(jīng)供需雙方協(xié)商，對(duì)圓餅進(jìn)行入射角為5°（折射角約為20°）的縱波斜入射或橫波檢驗(yàn)。
6.3.6 檢驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)在熒光屏?xí)r間基線(xiàn)上的雜波其幅度應(yīng)不高于熒光屏滿(mǎn)刻度的20%。
6.3.7 檢驗(yàn)過(guò)程中觀(guān)察到任何幅度高于熒光屏滿(mǎn)刻度20%的回波或底波下降，均應(yīng)在圓餅的表面作標(biāo)記，按本標(biāo)準(zhǔn)第7章的規(guī)定進(jìn)行評(píng)定。
7 缺陷評(píng)定
7.1 聲束垂直入射的情況
7.1.1 缺陷位置的確定及其標(biāo)記
獲得缺陷的*大反射后，將一吸聲材料的薄片沿圓餅表面斜插入聲束中，當(dāng)缺陷波下降6dB時(shí)停止移動(dòng)，沿吸聲片平頭劃一直線(xiàn)，再在其他兩個(gè)方向重復(fù)進(jìn)行，三條直線(xiàn)的相交點(diǎn)即為缺陷的位置（見(jiàn)圖2）。缺陷位置的標(biāo)記方法見(jiàn)圖1。
圖2 缺陷位置確定示意圖
7.1.2 缺陷埋藏深度的確定
將上表面和缺陷回波間的距離與上表面和底面回波間的距離進(jìn)行比較，根據(jù)這個(gè)比值，再測(cè)量出圓餅的厚度，即可算出缺陷的實(shí)際深度。
7.1.3 缺陷大小的估計(jì)
7.1.3.1 將缺陷的反射波高與規(guī)定的對(duì)比試塊中平底孔的反射波高進(jìn)行直接比較，以估計(jì)缺陷的大小，此時(shí)平底孔的埋藏深度與缺陷的埋藏深度相同，測(cè)試條件亦相同。
7.1.3.2 如果缺陷的埋藏深度與試塊中平底孔的埋藏深度不同，應(yīng)改變水距，將此缺陷處于探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，用兩個(gè)埋藏深度相近的平底孔，用插入法進(jìn)行評(píng)定，但不允許用外推法。
7.1.3.3 當(dāng)聲束垂直于圓餅上表面時(shí)，所獲得的缺陷反射波高，可能不是缺陷的*大反射波高，必要時(shí)，應(yīng)從不同方向和不同角度對(duì)缺陷進(jìn)行*大反射角研究。
7.1.4 缺陷大小的估計(jì)
有必要對(duì)缺陷的長(zhǎng)度作出估計(jì)時(shí)，可按下述方法進(jìn)行：
7.1.4.1 將探頭置于對(duì)比試塊上（試塊中平底孔的埋藏深度與缺陷的埋藏深度相同，孔徑由技術(shù)條件確定）并使平底孔的反射波高為*大，調(diào)節(jié)儀器增益使反射波高為熒光屏滿(mǎn)幅的80%，沿徑向移動(dòng)探頭，直至波高降為滿(mǎn)刻度的10%，然后反方向移動(dòng)探頭，通過(guò)80%波高，直至波高再次降低到10%，記下此兩點(diǎn)間的距離，設(shè)為“A”。
7.1.4.2 在靈敏度等測(cè)試條件不變的情況下，將探頭放在長(zhǎng)條形缺陷一端的*遠(yuǎn)點(diǎn)，在該點(diǎn)反射波高為滿(mǎn)刻度的10%時(shí)將探頭移至缺陷另一端的*遠(yuǎn)點(diǎn)，在該點(diǎn)反射波高再次降為滿(mǎn)刻度的10%，記下此兩點(diǎn)間的距離設(shè)為“B”。
7.1.4.3 缺陷長(zhǎng)度為B減A所得值。
7.1.5 底波的損失
底波的損失如果不是由于幾何形狀的影響，則圓餅中可能存在有傾角較大的缺陷或組織不均勻區(qū)，對(duì)此應(yīng)作進(jìn)一步的冶金分析。
7.1.6 缺陷的允許范圍
缺陷的允許范圍應(yīng)按有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或供需雙方協(xié)議執(zhí)行。
7.2 聲束斜入射的情況
聲束斜入射發(fā)現(xiàn)的缺陷，其評(píng)定方法由供需雙方商定。
7.3 圓餅中如果發(fā)現(xiàn)有不符合有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或雙方協(xié)議規(guī)定的缺陷，但在以后加工中可被去除，則應(yīng)在圓餅表面標(biāo)出缺陷的位置、尺寸及埋藏深度，并通知訂貨方。
8 檢驗(yàn)報(bào)告
檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括如下內(nèi)容：
a. 檢驗(yàn)單位名稱(chēng)、訂貨單位名稱(chēng)；
b. 圓餅名稱(chēng)、材料名稱(chēng)、爐號(hào)、批號(hào)、合同號(hào)、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)；
c. 圓餅的尺寸、表面狀態(tài)、熱處理狀態(tài)；
d. 探傷儀型號(hào)、探頭型號(hào)（包括頻率、材料、尺寸等）；
e. 調(diào)整探傷靈敏度的情況，包括試塊的尺寸、水距、有效聲束直徑；
f. 檢驗(yàn)結(jié)果；
g. 檢驗(yàn)人員及檢驗(yàn)日期。
附 錄 A
距離—振幅曲線(xiàn)測(cè)量及其繪制
（補(bǔ)充件）
A1 測(cè)量條件
A1.1 對(duì)每組探傷儀—探頭組合都必須測(cè)量出距離—振幅曲線(xiàn)，測(cè)量在水槽中進(jìn)行，測(cè)量時(shí)作為反射體的球靶（Φ2.5mm鋼球，表面光滑無(wú)缺陷）放在支座板中心位置，并固定在水槽壁上，使它對(duì)準(zhǔn)探頭拖架軸線(xiàn)。
A1.2 支座板由耐腐鋼材制成，其尺寸為150mm×150mm×6mm，支座板的表面要調(diào)到與探頭架相關(guān)運(yùn)動(dòng)成直角的位置。
A2 測(cè)量步驟
A2.1 按圖A1所示安裝好支座板和球靶，調(diào)節(jié)探頭，首先使支座板回波*大，再調(diào)節(jié)探頭，使主聲束對(duì)準(zhǔn)球靶，使球靶回波達(dá)到*大。
圖A1 探頭、球靶、支座板安裝示意圖
A2.2 調(diào)節(jié)探頭距球靶的距離，從距球靶600mm處開(kāi)始測(cè)量，每10～20mm測(cè)量一次，在振幅接近*大值N點(diǎn)時(shí)（見(jiàn)圖A2），可每5mm左右測(cè)量一次，一直到距探頭10mm處。
圖A2 水中距離—振幅曲線(xiàn)示意圖
A2.3 將上述測(cè)得的一系列回波振幅及對(duì)應(yīng)的水距，繪制到坐標(biāo)紙上，縱坐標(biāo)為回波振幅用dB值表示，橫坐標(biāo)為水距用毫米表示，于是得到距離—振幅曲線(xiàn)如圖A2所示。
A2.4 在圖A2的曲線(xiàn)中，對(duì)應(yīng)*大幅度的水距，即為探頭的N點(diǎn)。由比它小6dB的點(diǎn)作平行于橫坐標(biāo)的直線(xiàn)，直線(xiàn)與曲線(xiàn)相交兩點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的水程范圍即為探頭在水中的工作范圍。
被檢驗(yàn)材料中工作范圍l1如下式所示:
l1=lc1/c2………………………………………（A1）
式中：c1——水的聲速；c2——被檢驗(yàn)材料的聲速。
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附加說(shuō)明：
本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)冶金工業(yè)部提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由撫順?shù)搹S(chǎng)負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人莊風(fēng)蓮、翁殿學(xué)。
本標(biāo)準(zhǔn)水平等級(jí)標(biāo)記GB 1786—90I
國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局1990-05-04批準(zhǔn) 1991-01-01實(shí)施
