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涂層測厚儀
產(chǎn)品[
膜厚儀
]資料
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產(chǎn)品名稱:
膜厚儀
產(chǎn)品型號:
HS(TT)2100/3100/4100
產(chǎn)品展商:
其它品牌
簡單介紹:
本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、無損、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場。配置不同的探頭,適用于不同場合。是材料保護(hù)和生產(chǎn)控制必備儀器。
膜厚儀
的詳細(xì)介紹
適用范圍:
HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
主要功能:
可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進(jìn)行測量;
三種校準(zhǔn)方法: 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn);
顯示分辨率: 0.1μm(測量范圍小于100μm)
1μm (測量范圍大于100μm)
有兩種工作方式:直接方式和成組方式
有兩種測量方式:連續(xù)測量和單次測量
有兩種關(guān)機(jī)方式:手動關(guān)機(jī)和自動關(guān)機(jī)
可設(shè)置限界:對限界外的測量值能自動報(bào)警,并可用直方圖對一批測量值進(jìn)行分析;
有刪除功能:對粗大誤差及錯誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理;
打印功能:可打印測量測量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖
測量范圍:
(1)F400探頭、N400探頭:0—400μm
(2)F1探頭、F1/90探頭、N1探頭:0—1250μm
(3)F10探頭:0—10000μm
(4)CN02探頭:10-200μm(根據(jù)測量要求選用不同探頭)
測量精度:
不同探頭精度要求不同
(1)F400探頭、N400探頭:一點(diǎn)校準(zhǔn):(2%+0.7);二點(diǎn)校準(zhǔn):(1%+0.7)
(2)F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭:一點(diǎn)校準(zhǔn):(2%+1);二點(diǎn)校準(zhǔn):(1%+1)
(3)F10探頭:一點(diǎn)校準(zhǔn):(2%+10);二點(diǎn)校準(zhǔn):(1%+10)
使用溫度:
0~40℃
外型尺寸:
150×80×30m
重 量:
250g
功能
HS2100F
HS2100N
HS3100
HS4100
測量原理
磁性
渦流
磁性/渦流
磁性/渦流
測量范圍
標(biāo)準(zhǔn)配置探頭(F1/N1):1~1250μm
測量精度
±(2%H+1)μm(零點(diǎn)校準(zhǔn))
±[(1~3)%H+1] μm(二點(diǎn)校準(zhǔn))
統(tǒng)計(jì)量
平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
存貯和統(tǒng)計(jì)
15個測量值
測量精度
±(2%H+1)μm(零點(diǎn)校準(zhǔn))
±[(1~3)%H+1] μm(二點(diǎn)校準(zhǔn))
零點(diǎn)校準(zhǔn)
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二點(diǎn)校準(zhǔn)
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刪除功能
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自動關(guān)機(jī)
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蜂鳴聲提示
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測量方式
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欠壓指示
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錯誤提示
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標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)
F1探頭
基體
校準(zhǔn)片
說明書
包裝箱
主機(jī)
N1探頭
基體
校準(zhǔn)片
說明書
包裝箱
主機(jī)
F1(N1)探頭
基體
校準(zhǔn)片
說明書
包裝箱
主機(jī)
打印機(jī)
F1(N1)探頭
基體
校準(zhǔn)片
說明書
包裝箱
選配件
F1、F400、F10測頭
N1、N400測頭
通訊軟件
F1、F400、F10測頭
N1、N400測頭
產(chǎn)品留言
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