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產(chǎn)品資料
產(chǎn)品[

TOFD探傷儀

]資料
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以 產(chǎn)品名稱: TOFD探傷儀
產(chǎn)品型號: HS810
產(chǎn)品展商: 其它品牌
簡單介紹:
滿足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等標(biāo)準(zhǔn)及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標(biāo)要求; ◆ 具有JB/T 4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能——合成孔徑聚焦(SAFT),還原缺陷特征; ◆ 具有長續(xù)航時間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性更好,可實現(xiàn)現(xiàn)場遠(yuǎn)程控制及自動掃查:

TOFD探傷儀的詳細(xì)介紹

HS810性能特點

滿足 GB/T4730EN12668、BS 7706ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN 1822、DNV、API、RBIM等標(biāo)準(zhǔn)及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標(biāo)要求;

具有JB/T 4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能——合成孔徑聚焦(SAFT),還原缺陷特征;

具有長續(xù)航時間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性更好,可實現(xiàn)現(xiàn)場遠(yuǎn)程控制及自動掃查:

提供滿足企業(yè)特殊要求的軟件定制服務(wù)。

提供滿足現(xiàn)場特殊檢測要求的手動、

自動掃查器及硬件配置定制服務(wù)。

特種行業(yè)TOFD級人員資質(zhì)培訓(xùn)考核樣板機。

HS810性能特點
A 特優(yōu)點
全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;
超高亮彩色液晶顯示,可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變;
超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查
   
厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本;
A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
   
導(dǎo)波成像等多能一體;
獨有合成孔徑聚焦技術(shù),領(lǐng)潮行業(yè),有效提高缺陷
    
測量精度;
波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰;
內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;
便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各
     
種工件檢測要求;
多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性**覆蓋;
超大機內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡(luò)傳輸功能;
高分子復(fù)合材料機身,有效防震、抗跌落;
集成數(shù)據(jù)電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗小;
高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續(xù)航。

B探傷功能
掃查方式:對焊縫進(jìn)行**非平行、平行掃查
缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度
缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點
A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
B掃成像:實時顯示缺陷截面形狀
C掃成像:實時顯示缺陷俯視成像
D掃成像:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對
           
缺陷質(zhì)量進(jìn)行評價
P掃成像:實時空氣超聲定位,對缺陷進(jìn)行三維描述,提高
           
缺陷判性準(zhǔn)確率
導(dǎo)波成像:對薄壁工件進(jìn)行一維掃查,獲取二維成像

C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測**覆蓋200mm厚度以內(nèi)的分區(qū)
掃查;可擴(kuò)展至400mm厚度。

D 數(shù)據(jù)分析
直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度
橫豎調(diào)整:滿足不同現(xiàn)場操作習(xí)慣
SAFT:國際公認(rèn)有效提高缺陷測量精度的功能

E數(shù)據(jù)存儲與輸出
預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù),方便存儲、調(diào)出、離線分析、
  
復(fù)驗、打印、通訊傳輸。
超大內(nèi)存容量,單次掃查*多可記錄40米。
掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。
支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡(luò)傳輸、外接顯示器等。


HS810技術(shù)參數(shù)
頻帶寬度:0.3-22MHz
脈沖電壓:-400
脈沖前沿:<10ns
重復(fù)頻率:1000Hz(每通道)
平均次數(shù):8
采樣深度:5121024
匹配阻抗:25,500
檢波方式:數(shù)字檢波
增益范圍:0dB110dB波形顯示方式:射頻波,
           
檢波(全檢、負(fù)或正半檢波),
           
信號頻譜(FFT
掃描延時:0~500us可控0.008us精度
掃查定位:時基(內(nèi)置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)
成像模式:根據(jù)選擇的操作模式和相應(yīng)的儀器配置及設(shè)置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導(dǎo)波成像
直線掃查長度:0-40
記錄方式:完全原始數(shù)據(jù)記錄
離線分析:恢復(fù)和回放掃查時記錄的A掃波形
           
缺陷尺寸測量和輪廓描述
           
厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析
           
記錄轉(zhuǎn)換到ASC/MS Word/MS Excel

數(shù)據(jù)報告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導(dǎo)波檢測
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