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產(chǎn)品資料
產(chǎn)品[

涂層測厚儀

]資料
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以 產(chǎn)品名稱: 涂層測厚儀
產(chǎn)品型號: 2042
產(chǎn)品展商: 德國卡爾德意志
簡單介紹:
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。

涂層測厚儀的詳細介紹

可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
 
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
  		 
  隨機附送儀器箱
（儀器的舉例）
  特點概述
 
大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準(zhǔn)選項
出廠時已校準(zhǔn)，立即可用
在未知涂層上校準(zhǔn)*
零校準(zhǔn)*
在無涂層的基體上一點和多點校準(zhǔn)*
在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
 
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時調(diào)出
 
可選擇的顯示模式，以*佳形式去完成測量任務(wù)*
輸入和極限監(jiān)視*
在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統(tǒng)計*
 
可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
*小值、*大值、測量個數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭   * 取決于配置級別
  3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù)
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別
 
基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
**型 - 附加統(tǒng)計評估
專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
   
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為**型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。

這里有操作指南和制定模塊的參考說明。


  		 
  通過解鎖代碼可以很方便的升級
（證書舉例）
  舉例：儀器上的用戶界面圖像
選擇菜單項目（例如：語言清單）
 
A 語言清單
B 卷軸條作為導(dǎo)航輔助
     
清晰的統(tǒng)計讀數(shù)值和當(dāng)前測量值
 
C 基體
D 當(dāng)前測量值
E “可以測量”提示
F 單位
G *小值和*大值
H 標(biāo)準(zhǔn)偏離
I 平均值
K 測量值數(shù)量
     
電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中
 
L 顯示讀數(shù)的文件符號
M 可自由選擇的文件名
N 卷軸條作為導(dǎo)航輔助
     
  多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。
 
  探頭類型 測量方法 測量范圍 訂貨號

標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方 Fe 0 - 3000 祄 2442.100
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font> NFe 0 - 1000 祄 2442.130
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font> NFe 0 - 3750 祄 2442.140
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度 Fe 0.5 - 20 mm 2442.120
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內(nèi)部 Fe 0 - 3000 祄 2442.110
雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內(nèi)部涂層. Fe 0.5 - 12.5 mm 2442.200
微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部 FeNFe 0 - 500 祄 2442.300
2442.310
微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位 FeNFe 0 - 500 祄 2442.320
2442.330
微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔 FeNFe 0 - 500 祄 2442.340
2442.350
注：點擊單獨的探頭圖片，可以得到更多詳細信息        

  技術(shù)資料
數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
電源：電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度:　每秒測量２個數(shù)值
存儲: *多 9999 個數(shù)值，140個文件
誤差:
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后)
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
  附件
試塊和膜片
探頭定位裝置　(適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="g4wsowsy" class="en">Windows 程序里
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