相控陣探傷儀:
1.實(shí)時(shí)彩色成像,包括A/B/C/D和S-掃描,便于缺陷判讀,不會(huì)誤判或漏判缺陷;
2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦,從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性,因此檢測速度可以更快更準(zhǔn);
3、相控陣具有更高的檢測靈活性,可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能,如對復(fù)雜工件檢測;
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷,缺陷檢出率高,檢測范圍廣,定量、定位精度高;
5、掃查裝置簡單,便于操作和維護(hù);使用更便捷,對人體無傷害,對環(huán)境無污染;
6、檢測結(jié)果受人為因素影響小,數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用,以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作。
7、可以節(jié)省許多成本費(fèi)用,一探頭+各角度楔塊的多用處,可以自動(dòng)生成圖文缺陷報(bào)告,若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報(bào)告到數(shù)據(jù)中心查閱。
尊敬的客戶:
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磁粉探傷儀、
渦流探傷儀、超聲波探頭等。
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